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論著名稱:
技術鑑定-知識產權保護中亟待研究的新課題
文獻引用
編著譯者: 程永順
出版日期: 1999.09.30
刊登出處: 大陸/科技與法律1999 年 第 3 期/75-77 頁
頁  數: 3 點閱次數: 501
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程永順,技術鑑定-知識產權保護中亟待研究的新課題,科技與法律,1999年第3期,75-77頁,1999年09月30日。
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