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論著名稱:
美國專利局面詢制度之簡介
文獻引用
編著譯者: 王俊傑
出版日期: 1991.09.01
刊登出處: 台灣/台一專利商標雜誌第 59 期/3-3 頁
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授 權 者: 台一國際智慧財產事務所 授權者指定不分配權利金給作者)
關 鍵 詞: 美國專利局面詢制度美國專利審查程序
中文摘要: 美國專利制度的面詢,就是專利代理人為了讓審查委員進一步了解該申請案在書面上所無法表現出來的特色所申請與審查委員的非正式面談,一般面詢時問為二十到三十分鐘。參加面詢人員包括負責該案的審查委員與代表發明人/讓與人並於美國註冊有案的專利代理人,發明人也可視情況需要親自參與面詢,或者授權美國以外的專利代理人參加。美國專利局並未規定審查申請案期間必須進行面詢,基本上決定權在該案的申請人。當然,在特殊情況之下,若審查委員認為有面詢的必要也可主動要求。
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王俊傑,美國專利局面詢制度之簡介,台一專利商標雜誌,第59期,3-3頁,1991年09月01日。
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